荧光光谱仪
紫外可见光谱仪
傅立叶红外光谱仪
傅立叶红外光谱仪
同步热分析仪
X射线衍射仪ULTIMA
全自动比表面积及微孔分析仪(BET)
| 仪器型号 | ASAP2460 | | |
| 仪器厂商 | 麦克Micromeritics | ||
| 仪器存放地 | D101 | ||
| 负责人 | 李辉 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | huili@nju.edu.cn | ||
| 负责人联系方式（电话） | 13912960167 | ||
| 主要指标 | 该系统配备两个独立的微孔分析站，可以同时或者独立进行两个样品的微孔分析。比表面积：0.0001m2/g无上限孔径分析范围：3.5Å to 5000Å孔体积最小检测：0.0001cc/g |
X射线衍射仪D8
| 仪器型号 | D8 Advance | | |
| 仪器厂商 | 布鲁克 | ||
| 仪器存放地 | D010 | ||
| 负责人 | 李辉 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | huili@nju.edu.cn | ||
| 负责人联系方式（电话） | 13912960167 | ||
| 主要指标 | X射线光源最大输出功率3kW，Cu靶陶瓷X光管，可读最小步长：0.0001°，入射光路三光路系统：包括多晶粉末衍射BB几何系统，薄膜掠射、薄膜反射多层膜平行光系统；高分辨平行光+Ge200单色Ka1系统。样品台：标准样品台、九位自动进样装置、尤拉环样品台、高低温台 |
光电子能谱仪XPS
| 仪器型号 | K-Alpha | | |
| 仪器厂商 | Thermo Scientific | ||
| 仪器存放地 | D008室 | ||
| 负责人 | 李辉 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | huili@nju.edu.cn | ||
| 负责人联系方式（电话） | 13912960167 | ||
多功能联动显微镜
| 仪器型号 | Axio Scope A1 | | |
| 仪器厂商 | ZEISS | ||
| 仪器存放地 | |||
| 负责人 | 崔玉双 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | 89682295 | ||
| 负责人联系方式（电话） | |||
| 主要指标 | Axio Scope A1系列光学显微镜作为多功能型显微镜，无论在科学研究领域，还是在日常检测中，都能提供更加锐利的图像、更加优化的光学系统，更加舒适的操作体验。可配合已有ZEISS扫描电镜，进行样品显微关联分析。 显微镜是利用凸透镜的放大成像原理，将人眼不能分辨的微小物体放大到人眼能分辨的尺寸，其主要是增大近处微小物体对眼睛的张角（视角大的物体在视网膜上成像大），用角放大率M表... |
镀膜仪
| 仪器型号 | EM ACE600 | | |
| 仪器厂商 | Leica | ||
| 仪器存放地 | |||
| 负责人 | 崔玉双 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | 89682295 | ||
| 负责人联系方式（电话） | |||
| 主要指标 | 具备离子溅射功能和脉冲蒸碳两种功能，镀膜可以降低荷电效应满足高分辨电镜观察要求，降低电子束对样品的损伤，看到最真突的样品原貌。同时可以通过重金属和碳复型对热敏感的样品，不可破坏的样品，珍贵样品进行原品复型，从而进行扫描电镜的观察。产品碳丝蒸发镀碳膜可以为TEM最常用的铜网镀碳膜和二氧化硅膜，便于平台使用。 |
能谱仪（EDS）
| 仪器型号 | X-Max 50 | | |
| 仪器厂商 | Oxford | ||
| 仪器存放地 | |||
| 负责人 | 崔玉双 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | 89682295 | ||
| 负责人联系方式（电话） | |||
多功能等离子清洗系统
| 仪器型号 | Femto | | |
| 仪器厂商 | Diener | ||
| 仪器存放地 | |||
| 负责人 | 崔玉双 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | 89682295 | ||
| 负责人联系方式（电话） | |||
电子束曝光系统（EBL）
| 仪器型号 | NPGS | | |
| 仪器厂商 | RAITH | ||
| 仪器存放地 | |||
| 负责人 | 崔玉双 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | 89682295 | ||
| 负责人联系方式（电话） | |||
| 主要指标 | 该设备与电镜联用，理论分辨率0.8nm，目前报道5nm，国内报道13nm |
Ultim Extreme无窗超级能谱
| 仪器型号 | Ultim Extreme | | |
| 仪器厂商 | OXFORD | ||
| 仪器存放地 | |||
| 负责人 | 崔玉双 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | 89682295 | ||
| 负责人联系方式（电话） | |||
SEM（Field Emission Scanning Electron Microscope)
| 仪器型号 | ULTRA 55 | | |
| 仪器厂商 | ZEISS | ||
| 仪器存放地 | |||
| 负责人 | 崔玉双 | ||
| 负责人联系方式（邮箱） | 89682295 | ||
| 负责人联系方式（电话） | |||
